kpfm测表面电势的原理

KPFM是一种扫描探针显微镜技术，它能同时捕捉样品的表面形貌和表面电势。对于KPFM，振荡的导电探针在扫描样品表面的同时会施加交流电压，用来检测由表面电势局部变化引起的针尖和样品之间的静电力变化。为了最小化所侦测到的静电力，外加直流偏压可以抵消扫描的每个点上针尖和样品之间的接触电势差。基于外加直流偏压，在KPFM信号中重构了样品的表面电势分布。

它能利用已知的探针功函数，以纳米分辨率去成像样品表面功函数分布。功函数是一种材料特性，可用于区分复合材料中的单一成分或用于区分样品与基体。