层间短路测试仪原理

层间短路测试仪由于绕线材料、磁性材料、骨架、加工工艺等因素的影响会产生线圈层间、匝间及引脚间等绝缘性能的降低。层间短路测试仪是采用高速取样技术研制的新一代线圈类产品绝缘性能的测试仪器，可为大多数线圈类产品提供测试解决方案。

该层间短路测试仪将标准线圈的采样波形存储于仪器中，测试时将被测波形与标准波形比较，根据设定的判据(面积、面积差、相位差、电晕等)以判定被测线圈的优劣。层间短路测试仪需在尽可能不损坏被测件的条件下测试其电气性能，首要条件是能在短暂的瞬间以较低的能量施加于被测件以判别线圈的品质。

测量时将与标准线圈测量时同样的脉冲通过电容器放电施加于被测线圈，由于线圈电感量、杂散电容和Q值的存在，将响应一个对应于该放电脉冲的电压衰减波形，比较该衰减波形的某些特征，可以检测线圈匝间和层间短路及圈数和磁性材料的差异，如果施加一个高电压脉冲，根据出现的电晕或层间放电来判断绝缘不良。