kpfm測表面電勢的原理

KPFM是一種掃描探針顯微鏡技術，它能同時捕捉樣品的表面形貌和表面電勢。對於KPFM，振盪的導電探針在掃描樣品表面的同時會施加交流電壓，用來檢測由表面電勢局部變化引起的針尖和樣品之間的靜電力變化。為了最小化所偵測到的靜電力，外加直流偏壓可以抵消掃描的每個點上針尖和樣品之間的接觸電勢差。基於外加直流偏壓，在KPFM信號中重構了樣品的表面電勢分佈。

它能利用已知的探針功函數，以納米分辨率去成像樣品表面功函數分佈。功函數是一種材料特性，可用於區分複合材料中的單一成分或用於區分樣品與基體。