ddr測試方法

DDR芯片測試既在初期晶片階段也在最後封裝階段進行。採用的測試儀通常是內存自動測試設備，其價值一般在數百萬美元以上。測試儀的核心部分是一台可程式的高分辨信號發生器。測試工程師通過編程來模擬實際工作環境另外，他也可以對計時脈衝邊沿前後進行微調來尋找平衡點。

自動測試儀（ATE）系統也存在缺陷。它產生的任意波形數量受制於其本身的後備映象隨機內存和算法生成程序。由於映象隨機內存深度的侷限性，使波形只能在自己的循環內重複。因為DDR帶寬和速度是普通SDR的二倍，所以波形變化也應是其二倍。因此，測試儀的映象隨機內存容量會很快被消耗殆盡。為此，要保證一定的測試分辨率，就必須增大測試儀的內存。

建立測試頭也是一個棘手的問題。因為DDR內存的數據讀取窗口僅有1—2ns，所以管腳驅動器的上升和下降時間非常關鍵。為保證在數據眼中心進行信號轉換，需要較好的管腳驅動器轉向速度。

在頻率為266MHz時，開始出現傳輸線反射。設計工程師發現在設計測試平台時必須遵循直線律。為保證信號的統一性，必須對測試頭佈局進行傳輸線模擬。管腳驅動器強度必須能最大限度降低高頻信號反射。