可控硅炸裂的原因
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1、電壓擊穿
可控硅因不能承受電壓而損壞,其芯片中有一個光潔的小孔,有時需用擴大鏡才能看見。其原因可能是管子本身耐壓下降或被電路斷開時產生的高電壓擊穿。
2、電流損壞
電流損壞的痕跡特徵是芯片被燒成一個凹坑,且粗糙,其位置在遠離控制極上
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1、電壓擊穿
可控硅因不能承受電壓而損壞,其芯片中有一個光潔的小孔,有時需用擴大鏡才能看見。其原因可能是管子本身耐壓下降或被電路斷開時產生的高電壓擊穿。
2、電流損壞
電流損壞的痕跡特徵是芯片被燒成一個凹坑,且粗糙,其位置在遠離控制極上