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可控硅炸裂的原因

可控硅炸裂的原因

可控硅炸裂的原因

1、電壓擊穿

可控硅因不能承受電壓而損壞,其芯片中有一個光潔的小孔,有時需用擴大鏡才能看見。其原因可能是管子本身耐壓下降或被電路斷開時產生的高電壓擊穿。

2、電流損壞

電流損壞的痕跡特徵是芯片被燒成一個凹坑,且粗糙,其位置在遠離控制極上

標籤: 炸裂 可控硅
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