超声波探伤出现杂波的原因

1、探头和探头线接触不良，此时去掉探头线，现象应消失2、电源线或充电器有干扰，去掉充电器直接使用电池，现象应消失3、探头或探头线离屏幕太近，引起屏辐射。

针对钛合金板，棒材超声波探伤时杂波水平较高的情况，本文从显微组织，工件表面光洁度，探头频谱等三方面进行了试验，分析.结果表明:除显微组织对钛合金超声波探伤杂波水平产生影响外，工件表面粗糙度以及探头频谱对杂波水平也有较大的影响.

超声波探伤出现杂波的原因

实际水浸法超声波探伤时，杂波水平超标现象时有发生，而此时金相组织和性能检验却合格。影响超声波探伤杂波水平的因素较多，从探伤方法本身来说，探伤频率、不同形状工件探伤时探头晶片尺寸以及工件表面粗糙度等都会影响探伤杂波水平。低频探头探伤时杂波水平一般较高频探头低，但探伤灵敏度也低，技术标准一般对此进行了严格规定。探头晶片尺寸对圆形产品探伤时有影响，对平面型产品影响较小。

1、表面粗糙度对探伤杂波的影响

     表面状态的差异导致杂波水平差别较大。究其原因，水浸法探伤时由于平探头声束经水耦合进入棒材表面时，边缘扩散声束在棒材表面可能形成其它变形波，这些变形波在车刀痕（或粗糙度较差）处多次反射，在示波屏上形成了较高的杂波水平。此现象在表面状态差的饼、环材探伤时也时有发生。

2 、探头频谱对杂波水平的影响

     普通水浸一般为窄带频谱，主频范围很窄，脉冲振动次数较多（即宽脉冲），专门的窄脉冲水浸探头为宽带频谱，脉冲振动次数很少（即窄脉冲）。棒材水浸法试验时，采用普通水浸探头和窄脉冲水浸探头探测同一棒材时的全声程杂波水平分别为Φ2.0mm-(0～2)dB和Φ2.0mm-(6～8)dB，半声程杂波水平分别为Φ2.0mm-(6～8)dB和Φ2.0mm-12dB。结果发现标称频率相同的两种探头，在探测同一试样棒时产生的杂波水平不同。棒材探伤时，无论采用全声程法还是半声程法，窄脉冲水浸探头杂波水平均比普通水浸探头低5dB左右。

3 、显微组织对杂波水平的影响

     材料组织对杂波水平的影响是显而易见的。粗大不均匀的组织可引起超声波的杂乱反射，这种反射以杂波形式反映在示波屏上。但是，在晶粒尺寸不超过评级要求的情况下，什么样的组织致使探伤杂波水平偏高还有待于进一步探究。

     通过对有关试样解剖分析，对水浸探伤杂波产生的原因有了基本认识，即产生杂波的原因除材料自身的组织影响较大外，材料表面粗糙度以及采用探头的频谱等对探伤杂波也有一定的影响。